みらくる分析センター

 

 

X A F S

 

EXAFSで化学状態を分析します

 

 XAFS(X線吸収微細構造)はX線吸収原子の電子状態やその周辺構造などの情報、つまり電子状態、隣接原子までの距離やその個数、などを得ることができます。測定試料として、X線回折のように結晶物質に限らず分析することができます。

蓄電池材料や触媒開発に威力を発揮し、また環境化学物質の分析にも適しています。

 

 

分析例 : モリブデンのK吸収端測定

 

   

 

 

 

分析例 : モリブデン酸カリウムの動径分布関数

 


 

 

 

 

光源 MIRRORCLE-CV4
X線エネルギー 10〜25keV

分析可能原子

 

K殻:Ga(31)〜In(49)

L殻:Tl(81)〜U(92)

エネルギー分解能 ΔE / E = 5,000
試料形状 固体、薄膜、溶液、粉末
試料厚さ 数μm〜数十μm
試料サイズ 10 x 30mm

 

 

 

 

 

 


↑TOPに戻る